过度电性应力 (EOS)

一、简介

EOS 即过度电性应力，器件受瞬间过压、过流、浪涌冲击，超出额定电气承受范围，造成内部电路烧毁、金属线熔断、PN 结损坏，是半导体常见电性失效原因。 上海北测芯源专业提供 EOS 失效分析与应力测试服务。

二、失效诱因

• 瞬间电压超标、电流浪涌冲击
• 电源不稳、插拔瞬间脉冲干扰
• 电路设计限流保护不足
• 测试工况异常、上电时序错误

三、常见失效现象

• 内部线路熔断烧断
• 芯片碳化、局部发热烧毁
• 电性短路、开路、功能彻底失效
• 参数漂移、性能异常不稳定

四、适用产品

功率器件、车载芯片、电源 IC、三极管、MOS 管、各类集成电路

五、应用场景

EOS 失效原因判定、电路防护优化、浪涌应力测试、产品可靠性整改、产线异常不良分析

六、服务优势

精准定位电性损伤区域，还原失效过程，出具完整分析报告，协助客户优化电路与生产管控。