超声波扫描检测（SAT）

一、什么是 SAT 超声波扫描

超声波扫描 SAT，是半导体封装行业主流无损检测技术，利用高频超声波穿透器件内部，直观排查内部分层、空洞、气泡、裂纹、脱层等缺陷，无需拆毁样品，广泛用于芯片、功率器件、元器件内部质量筛查。

上海北测芯源专业提供 SAT 超声波扫描检测服务，精准排查封装内部隐性不良。

二、主要检测项目

1. 封装内部分层、界面脱粘
2. 芯片空洞、焊层气泡、填充缺料
3. 晶圆裂纹、基材开裂
4. 键合层异常、散热层贴合不良
5. 潮湿引发内部分层失效

三、适用产品

MOS 管、IGBT、SiC/GaN 功率器件、车载芯片、BGA、PCB 模组、各类密封电子元器件。

四、应用领域

研发缺陷验证、量产来料质检、可靠性试验后复检、失效分析定位内部破损、车规器件品质管控。

五、我们服务优势

具备成熟超声波扫描检测设备，工程师经验充足，检测速度快、成像清晰，可出具正规检测报告，满足研发、量产、认证全流程检测需求，一站式解决电子元器件内部无损检测难题。